光学薄膜测量仪采用光谱反射计技术测量薄膜反射光谱进测量薄膜厚度和测量薄膜折射率等参数，非常适合日常已知膜系膜堆测量。这款测厚仪具有较长工作距离，工作距离可调，超大样品台，可选光源等特点。
光学薄膜测量仪的工作原理：
1、白光反射光谱测量方法是在一定波长范围内，分析垂直于样品表面的入射光和从单层或多层堆叠薄膜反射的反射光谱的分析方法。
2、由界面&表面产生的反射光谱被用于确定独立和附着于基底（在透明或部分/全反射基底上）的堆叠膜层的厚度、光学常数等。
产品特征：
非接触式、非破坏性的测试系统；
超长寿命光源，更高的发光效率；
高分辨率、高灵敏度光谱仪，测量结果更准确可靠；
软件界面直观，操作方便省时；
历史数据存储，帮助用户更好掌握结果；
桌面式分布设计，适用场景丰富；
维护成本低，保养方便。
光学薄膜测量仪的优点是能够避免前期的样品处理，甚至是不需要样品来进行试样工作。传统的测厚仪，在测量物件时，需要进行样品的处理，使样品与被测量物件一致，在测量时直接应用于样品测量。而光学测厚仪的使用是直接应用于被测量物体。
这样的一个过程便节省了不少的工作以及资源。利用光学膜厚测量仪，它可以避免了被测量物件的损坏。
之所以普通传统的测厚仪需要用到样品来进行试测，就是因为在测量时，会对物体造成一定程度的表面损坏，为了避免物件的损坏，才会需要应用样品。
而光学的测厚仪，虽然直接应用于物件表面，但其它放射出来的光却是一样没有实质的事物，在测量的时候并不会对物件造成什么样的损伤。
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